日本質量分析学会 第67回質量分析総合討論会

演題概要

オーラルセッション

第2日 5月16日(木) 10:30~10:50 C会場(101)

イオン液体で濡らした針先端からのプロトン含有クラスターイオンビームの生成:集束イオンビーム(FIB)用の液体金属イオン源を参考として

(産総研)
o藤原幸雄齋藤直昭

Emission of cluster ions from a sharped rod wetted with liquid, which is an important phenomenon in liquid metal ion sources, was investigated using a protic ionic liquid. A stable cluster ion beam was generated from a tip of a sharpened rod wetted with propylammonium nitrate ([C3H7NH3][NO3]). The cluster ion beam contained massive cluster ions exceeding m/z 5000. In addition, the cluster ion beam was tested as a primary ion beam in secondary ion mass spectrometry (SIMS). The cluster ion beam proved to be useful for enhancing molecular ionization of organic materials.