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オーラルセッション

第2日　5月16日（木）　09:50～10:10　B会場（102）

2B-O1-0950　　PDF

TOF-SIMS MS/MSによる高分子材料表面の高空間分解能イメージング

(アルバック・ファイ)
^o飯田真一・宮山卓也

Recently, we have developed TOF-SIMS instrument equipped with tandem mass spectrometry (MS/MS). In this presentation, we will introduce our new instrument and its imaging capability.