演題概要

特別講演: 受賞講演
オーラルセッション（第1日, 第2日, 第3日）: ポスター発表（第1日, 第2日, 第3日）
ワークショップ: ランチョンセミナー（第1日, 第2日, 第3日）
タイムテーブル

ランチョンセミナー

第１日　５月１４日（水）　12:10～13:10　B会場（星雲１）

1B-L-1210　　PDF

JEOL質量分析計を用いた最新応用例のご紹介

(¹JEOL・ ²JEOL USA)
^o奥田晃史¹・佐藤貴弥¹・ Cody, Robert²

The latest applications of JEOL Mass Spectrometers, including those of DART® and other ambient ionization techniques with JMS-T100LP AccuTOF LC-plus, JMS-S3000 SpiralTOF MALDI-TOF-TOF tandem MS, and Photo Ion Source on JMS-Q1500GC GC-QMS will be discussed.