演題概要

ランチョンセミナー

第3日 6月19日(金) 12:30~13:30 D会場(202)

JEOL質量分析計を用いた最新応用例のご紹介

(JEOL)
o田村淳伊藤喜之草井明彦

The latest applications of JEOL Mass Spectrometers, including those of DART® on JMS-T100LP AccuTOF LC-plus 4G, JMS-S3000 SpiralTOF MALDI-TOF-TOF tandem MS, and JMS-T200GC AccuTOF GCx GC-HRTOFMS will be discussed.