1P-39 PDF
帯電液滴およびGaビーム衝撃により生成される二次イオンの収率
(1山梨大医工農・ 2山梨大クリエネ研) o渡邊諒1・ 二宮啓1・ 境悠治2・ チェンリーチュイン1・ 平岡賢三2
This study provides the yields of secondary ions produced by Ga ion and charged droplet beams with a time-of-flight secondary ion mass spectrometer.