演題概要

ランチョンセミナー

第1日 5月14日(水) 12:10~13:10 B会場(星雲1)

JEOL質量分析計を用いた最新応用例のご紹介

(1JEOL2JEOL USA)
o奥田晃史1佐藤貴弥1Cody, Robert2

The latest applications of JEOL Mass Spectrometers, including those of DART® and other ambient ionization techniques with JMS-T100LP AccuTOF LC-plus, JMS-S3000 SpiralTOF MALDI-TOF-TOF tandem MS, and Photo Ion Source on JMS-Q1500GC GC-QMS will be discussed.