第16回二次イオン質量分析に関する国際シンポジウム
The 16th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry(SIMS XVI)
| 日時： | 2007年10月29日（月）から11月2日（金） |
| 場所： | 石川県県立石川音楽堂（金沢市） |
| 主催： | SIMS XVI国際会議組織委員会 |
| 協賛： | 日本質量分析学会 他 |
| 会合内容： | 二次イオン質量分析法（SIMS）に関する装置化、解析、理論の最新情報を議論するとともに、バイオ、有機、半導体、金属への幅広い応用に関して討論する。 |
| 詳しくはホームページhttp://beams.cc.kogakuin.ac.jp/sims/をご覧ください。 | |
同時開催
第6回新材料・素子の原子レベル評価に関する国際シンポジウム（ALC’07）
The 6th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices'07（ALC'07)
| 主催： | 日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会 |
| 会合内容： | 新材料や新素子を対象とした分析・解析技術の発表と討論を行う。表面や微小部の分析や解析に関する電子ビーム・イオンビーム・電磁波・走査プローブなど幅広い技術を対象とする。 |
| 2006年10月12日掲載 |
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